LG gram ultraléger avec écran IPS 16:10 de 16 po et plateforme Intel^MD Evo^MC

*L’image montre le produit LG gram représentatif à des fins d’illustration. Veuillez consulter les images de la galerie prises avec le produit réel.

*DCI-P3 typique de 99%, minimum de 95%

*Les résultats se fondent sur l’utilisation de processeurs Intel^MD Core^MC de 10e génération à titre de comparaison.
*Le résultat de la performance de l’AI (basé sur TGL UP3 PL1 = 15W) a été mesuré par WebXPRTv.3 en septembre 2020.
*Le résultat de la performance graphique (basé sur TGL UP3 PL1 = 15W) a été mesuré par 3DMark-v2.7 Night Raid (pointage graphique) en septembre 2020.
*Performance mémoire : Comparaison avec DDR4 de 3200MHz.

*L’autonomie réelle de la batterie varie par rapport aux caractéristiques techniques en fonction du modèle, de la configuration, des applications utilisées, des fonctionnalités utilisées et des paramètres de gestion de l’énergie.
*L’image montre le produit LG gram représentatif à des fins d’illustration. Veuillez consulter les images de la galerie prises avec le produit réel.

*Les fonctionnalités ci-dessus peuvent ne pas fonctionner correctement en selon le câble utilisé par l’utilisateur.
*Le câble Thunderbolt^MC n’est pas inclus dans l’emballage.
**Alimentation électrique jusqu’à 15W du LG gram au périphérique connecté.
**Si vous n’utilisez pas le chargeur fourni, un périphérique externe qui fournit une puissance d’au moins 10W est nécessaire pour charger le LG gram.

*Amazon, Alexa et tous les logos associés sont des marques de commerce d’Amazon.com inc. ou de ses filiales.

*LG gram : Essais et certification de la norme MIL-STD-810 par KOLAS Labs de septembre à novembre 2020. Le LG gram a réussi sept tests MIL-STD-810G distincts de durabilité effectués par un laboratoire indépendant se conformant aux normes militaires des États-Unis. Il a été soumis aux procédures suivantes dans le cadre des tests MIL-STD-810G : méthode 500.6, Basse pression (altitude) (procédure I – Entreposage et méthode et procédure II – Fonctionnement); méthode 501.6, Température élevée (procédure I – Entreposage et procédure II – Fonctionnement); méthode 502.6, Basse température (procédure I – Entreposage et procédure II – Fonctionnement); méthode 509.6 – Brouillard salin; méthode 510.6 – Poussière; méthode 514.7 – Vibration; méthode 516.7, Choc (procédure II) – Choc de transport. L’appareil peut ne pas fonctionner comme lors des tests dans toutes les conditions. Tests réalisés dans un environnement contrôlé. Ne reproduisez pas les tests.